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　 隨著(zhù)微電子技術(shù)的發(fā)展，集成電路復雜度不斷增加，這就要求半導體封裝具有更好的電性能、更高的可靠性。這些年來(lái)，為縮小電子產(chǎn)品的尺寸、降低生產(chǎn)成本，實(shí)現高精度的點(diǎn)膠控制性能已經(jīng)成為工業(yè)進(jìn)一步發(fā)展的需要，這就對點(diǎn)膠過(guò)程的高性能的控制要求變得越來(lái)越苛刻。高精度點(diǎn)膠控制的最終目標是達到接近測量精度的最小誤差，同時(shí)還要具有很好的穩定性。只有這樣，才能使點(diǎn)膠過(guò)程更精確，點(diǎn)膠質(zhì)量更好。

  在點(diǎn)膠加工過(guò)程中，隨著(zhù)針筒內剩余的膠體越來(lái)越少，針筒內氣體的體積會(huì )越來(lái)越大。當針筒變空時(shí)，壓縮針筒內的氣體也需要更多的時(shí)間。由于增壓時(shí)間的不同，當針筒變空時(shí)，會(huì )引起點(diǎn)膠量的重大變化。因此，隨著(zhù)針筒內氣體體積的增加，可適當地延長(cháng)加壓時(shí)間，以補償對點(diǎn)膠所產(chǎn)生的影響。另外，也可通過(guò)真空回吸方法來(lái)進(jìn)行點(diǎn)膠補償。采用這種方法，能夠在活塞和料液之間形成一段真空段，壓縮針筒內的氣體僅需很少的時(shí)間。這種真空回吸方法是目前FIP點(diǎn)膠加工行業(yè)中普遍采用的補償方法。

  在定量點(diǎn)膠產(chǎn)品過(guò)程中，最基本的要求是在整個(gè)點(diǎn)膠過(guò)程中保持膠體流速和點(diǎn)膠效果一致。但是，由于影響點(diǎn)膠定量精度的因素很多，包括流體粘度、流體溫度、針筒內液體的高度和壓力、針尖的內徑和長(cháng)度、點(diǎn)膠機器結構、點(diǎn)膠高度以及膠點(diǎn)大小和形狀等，所以必須通過(guò)程序控制和機械控制來(lái)提高點(diǎn)膠的定量精度，并實(shí)現整個(gè)過(guò)程中膠體流速和點(diǎn)膠效果的一致性。